Chroma 19035安規(guī)掃描測(cè)試儀5擁有5kVac/6kVdc高壓輸出，符合繞線組件之耐壓測(cè)試需求，輸出電流可達(dá) 30mA。IR絕緣電阻測(cè)試可量測(cè)范圍為1MΩ到 50GΩ，電壓輸出可達(dá)5kV。DCR直流電阻量測(cè)除了可量測(cè)繞線組件之基本規(guī)格，也可做為安規(guī)耐壓測(cè)試之前連接檢查。Chroma 19035繞線組件電氣安規(guī)掃描測(cè)試器針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線產(chǎn)品測(cè)試。

19035安規(guī)掃描測(cè)試儀

詳細(xì)介紹

Chroma 19035擁有5kVac/6kVdc高壓輸出，符合繞線組件之耐壓測(cè)試需求，輸出電流可達(dá)30mA。IR絕緣電阻測(cè)試可量測(cè)范圍為1MΩ到50GΩ，電壓輸出可達(dá)5kV。DCR直流電阻量測(cè)除了可量測(cè)繞線組件之基本規(guī)格，也可做為安規(guī) 耐壓測(cè)試之前連接(接觸)檢查。 其具有Flashover、OSC (開(kāi)短路偵測(cè)) 等強(qiáng)大附加功能，以及可程序電壓值、時(shí)間參數(shù)等，針對(duì)不同的待測(cè)物特性，防止不良品輕易通過(guò)質(zhì)量驗(yàn)證，提升測(cè)試本身的信賴(lài)度及產(chǎn)品質(zhì)量。 為針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線組件測(cè)試需求，所設(shè)計(jì)的綜合安規(guī)測(cè)試器。大多數(shù)繞線組件具有多組繞組，如三相馬達(dá)、雙繞組變壓器等，利用19035八信道掃描，無(wú)需手動(dòng)切換測(cè)試點(diǎn)，達(dá)成多點(diǎn)一次測(cè)試完成，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。 還可提供OSC及DCR功能，檢驗(yàn)測(cè)試過(guò)程中是否接觸不良或有待測(cè)物短路的現(xiàn)象，解決馬達(dá)、 變壓器等繞線組件測(cè)試時(shí)所發(fā)生的接觸問(wèn)題，提升測(cè)試質(zhì)量及延長(zhǎng)測(cè)試設(shè)備的壽命

主要特點(diǎn) 

■支持16信道掃描測(cè)試 

■高速接觸檢查 (HSCC) 

■次測(cè)項(xiàng)功能 

■OSC開(kāi)短路偵測(cè) 

■GFI人體保護(hù)電路 

■Flashover 偵測(cè) 

■面板鎖定功能 

■標(biāo)準(zhǔn)RS232接口 

■可選購(gòu)GPIB&HANDLER接口 

■CE認(rèn)證 主要功能 

■5kVac & 6kVdc 耐壓測(cè)試 

■1MΩ~50GΩ /5kV 絕緣阻抗測(cè)試 

■10mΩ~500kΩ 直流電阻測(cè)試 

■8信道掃描輸出

開(kāi)短路偵測(cè)

OSC功能為偵測(cè)測(cè)試過(guò)程中是否有開(kāi)路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象，會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。 一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(Cc)，一般低于10pF， 而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象，而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正常現(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判斷接線是否良好。

次測(cè)項(xiàng)功能 - 繞線組件多顆測(cè)試

生產(chǎn)廠商為了提升耐壓測(cè)試效率，常以并聯(lián)測(cè)試做為解決方法。但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無(wú)法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出或良品判為不良品，以及不良時(shí)需至后測(cè)站進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。 為解決并聯(lián)測(cè)試的困擾，19035提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試 (單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物。此功能的導(dǎo)入，將大幅提升產(chǎn)線的耐壓測(cè)試效率。 

范例: 

STEP 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7 Sub 

step A: AC Hipot / pin1 to pin5 Sub 

step B: AC Hipot / pin1 to pin6 Sub 

step C: AC Hipot / pin1 to pin

40信道掃描測(cè)試

19035安規(guī)掃描測(cè)試儀每個(gè)選配件A190359掃描儀提供16個(gè)測(cè)試信道，每個(gè)信道都可設(shè)定為H(高壓輸出)、L(參考點(diǎn))或是Off(不設(shè)定)。19035與A190359的組合可讓繞線組件測(cè)試更有效率。19035配合兩臺(tái)A190359， 測(cè)試通道更可達(dá)40組，對(duì)于多腳或多顆待測(cè)物可以一次完成接觸檢查及測(cè)試。

19035測(cè)試器與2臺(tái)16CH高壓掃描冶具A190359的接線方式